Testes Para Certificação EMC de Uma Fonte Chaveada Full Range 60 W

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Airton Bento
Luis Carlos Martinhago Schlichting

Resumo

O processo de fabricação de componentes eletrônicos, sofreu grandes transformações nos últimos anos. Destaca-se nesse contexto, a tecnologia SMD (Surface Mount Device), que surge como uma nova opção à tecnologia PTH (Pin Through Hole). Diante disso, o objetivo desse estudo, foi examinar o comportamento dessas duas tecnologias, em relação a compatibilidade eletromagnética (EMC). Para examinar esse comportamento, foram utilizadas duas fontes de alimentação, uma montada com componentes SMD e outra com o uso de componentes PTH. Além das diferenças tecnológicas de montagem das fontes, foram comparados dois filtros de EMI. Os resultados apontam que o modelo SMD  apresenta uma pequena desvantagem em relação ao modelo PTH, essa última com melhor desempenho nos testes de emissão conduzida. De acordo com esses resultados, conclui-se que as fontes não necessitam utilizar filtros EMI, por estarem dentro dos limites da norma CISPR11.

Detalhes do artigo

Como Citar
BENTO, Airton; SCHLICHTING, Luis Carlos Martinhago. Testes Para Certificação EMC de Uma Fonte Chaveada Full Range 60 W. Revista Ilha Digital, Florianópolis, v. 8, p. 93–106, 2023. Disponível em: https://ilhadigital.florianopolis.ifsc.edu.br/index.php/ilhadigital/article/view/136. Acesso em: 28 abr. 2024.
Edição
Seção
Artigo Original Completo
Biografia do Autor

Airton Bento, IFSC/Campus Florianópolis/DAELN

Especialista em Desenvolvimento de Produtos Eletrônicos, IFSC/Florianópolis

Luis Carlos Martinhago Schlichting, IFSC/Campus Florianópolis/DAELN

Professor do Departamento Acadêmico de Eletrônica (DAELN), IFSC/Florianópolis

Referências

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